パワー半導体の熱、逃がします 高熱伝導性の絶縁インキパワー半導体の熱、逃がします 高熱伝導性の絶縁インキ：JPCA Show 2024 太陽インキ製造（1/2 ページ） 太陽インキ製造は、「JPCA Show 2024」（2024年6月12～14日／東京ビッグサイト）に出展し、パワー半導体向け高放熱絶縁材料の製品群を展示した。これらは、電子回路技術及び産業の進歩発展に顕著な製品・技術を表彰する「JPCA賞」を受賞したものだ。
基板の目視検査を大幅効率化、インライン向け装置も投入へ
WITは「第37回エレクトロテストジャパン」（2023年1月25～27日、東京ビッグサイト）において、基板の目視検査支援装置「AIP-4000」などを出展した。 プリント基板の検査にはAOI（自動光学検査）などの自動検査装置が用いられるが、それらで不良判定された箇所の多くは最終的に人の目視検査で特定されている。AOIなどは不良品の流出を避けるため、疑わしい場合はNGとする閾値になっているケースが多い。そのため、NGと判断された箇所が本当にNGなのかを人の目で判断するのだ。AIP-4000はその目視検査をサポートする。 プリント基板を装置にセットすると、AOIのデータと連携して自動的にNGと判断された箇所の拡大画像が画面に映し出される。装置には真上と斜め上、2つの方向から基板を撮影するカメラがあり、NG箇所の倍率の変更だけでなく、回転も可能となっている。 「部品自体がずれていないかや、そもそ
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