基板の目視検査を大幅効率化、インライン向け装置も投入へWITは「第37回エレクトロテストジャパン」（2023年1月25～27日、東京ビッグサイト）において、基板の目視検査支援装置「AIP-4000」などを出展した。 プリント基板の検査にはAOI（自動光学検査）などの自動検査装置が用いられるが、それらで不良判定された箇所の多くは最終的に人の目視検査で特定されている。AOIなどは不良品の流出を避けるため、疑わしい場合はNGとする閾値になっているケースが多い。そのため、NGと判断された箇所が本当にNGなのかを人の目で判断するのだ。AIP-4000はその目視検査をサポートする。 プリント基板を装置にセットすると、AOIのデータと連携して自動的にNGと判断された箇所の拡大画像が画面に映し出される。装置には真上と斜め上、2つの方向から基板を撮影するカメラがあり、NG箇所の倍率の変更だけでなく、回転も可能となっている。 「部品自体がずれていないかや、そもそ
