ジャンクション温度の計算(6)―― 実機のスイッチング素子の温度計算:中堅技術者に贈る電子部品“徹底”活用講座(最終回)(1/4 ページ) 2016年10月から始まった本連載もいよいよ今回で最終回となりました。前回は繰り返しパルス列の温度上昇について説明をしました。その説明を通じてパルス状の損失が発生する実際のスイッチング電源ではスイッチング周期に占める損失発生時間比率(δ)は極めて小さく、1回の繰り返し、つまり2発のパルスによる温度変化を調べれば十分だと分かりました。今回はモデル化された損失波形や実際の損失波形を用いて温度計算を行い実際の温度変動値を評価します。 またダイオードなどで用いられるI2t値、過渡熱抵抗曲線が湾曲する時間領域の温度上昇についても説明します。 多重パルス損失による温度計算 スイッチング電源に使用するMOSFETのチャネル温度のように損失の変動が素子の温度上昇に影響
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